二手 KLA / TENCOR P-170 #293800460 待售

KLA/TENCOR P-170晶圓測試和計量設備是一個高性能的計量平臺，提供晶圓、半導體和MEMS器件的精確、自動化的測量和分析。KLA P-170具有先進的光學計量能力，能夠準確分析晶圓生產環境中的器件特性。它提供先進的非接觸成像和設備分析，提供了一種可靠的測量和量化晶圓性能的方法。TENCOR P-170具有電動晶片級、集成光學子系統和直觀的用戶界面,便於操作和設置。機動化級將晶片移動到一系列位置，準確精確，從而可以分析晶片上的所有平坦區域。光學子系統由高分辨率相機組成，可以隨著舞臺的移動檢測晶片上最小的特征，創建晶片地形的詳細圖像。直觀的用戶界面允許快速設置和數據輸入,以便於工作流。P-170還具有高精度定位和對難以進入的區域進行間隔器對準的能力。KLA/TENCOR P-170可以測量廣泛的特性，包括在半導體制造中常用的關鍵參數如CD和叠加。該系統可以測量具有亞納米精度的器件尺寸以及平面面積特性，從而能夠快速識別制造過程中任何可能的不符合。KLA P-170還能夠對設備進行高效的自動分類和映射,從而簡化了對生產線中晶圓的分析過程。對於自動化的生產環境,TENCOR P-170提供了高級功能,如AutoFocus,它允許在35秒內連續測量CD或組成。該單元還具有高速索引和地形校正功能，保證了所有測量中的頂級均勻性和準確性。此外,P-170還提供了與生產線的其他工具或部件集成的靈活性,從而簡化了流程。總體而言,KLA/TENCOR P-170晶圓測試和計量機是一種多合一解決方案,能夠對晶圓、半導體和MEMS設備進行快速、精確和可重復的分析。憑借其先進的計量能力、高精度測量、直觀的用戶界面和先進的自動化，KLA P-170提供了一種準確、高效的生產環境中晶圓分析方法。