二手 KLA / TENCOR P-6 #293651885 待售
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KLA/TENCOR P-6是一種前沿晶片測試和計量設備，設計用於測量和表征半導體晶片上的薄膜，精度和精度無與倫比。該系統利用先進的光學技術，包括明場、暗場和偏振成像以及光譜和壽命測量，收集晶圓級數據。這些數據隨後被用於分析各種晶圓參數的性能，如厚度、表面粗糙度、晶粒尺寸、反射率、散射和熒光。KLA P-6旨在以高低的生產速度工作，每小時達6,000晶圓。此外，該單元還配備了雙面傳感器，使其能夠同時從晶圓的兩側收集數據。因此,可以在一半的時間內收集兩倍的數據,從而使制造商能夠降低成本並獲得更快的結果。TENCOR P6具有多種計量技術,並提供單測試和多測試功能。單一測試功能允許用戶選擇一種特定的測試類型（例如厚度）,並使用計算機來測量該測試。另一方面,多測試功能允許用戶選擇多種測試類型（例如厚度和晶粒大小）,並使用該工具同時測量所有測試類型。P6提供用戶友好的界面、靈活的配置選項和強大的報告功能。資產的直觀控制軟件引導用戶完成過程排序,使他們能夠快速輕松地自定義測試要求。此外，該模型還包括用於特定晶圓計量任務的各種專門軟件應用。這些應用程序使用戶能夠快速為其應用程序選擇最佳計量方法,創建自定義測試,並實時訪問關鍵結果。KLA P6還提供了一些增值功能,使其成為一個非常寶貴的工具。其中包括先進的數據記錄設備、集成的晶圓跟蹤系統、自動晶圓處理以及用於多站點測量的自動對準。結合這些功能,可確保設備易於操作,並能夠快速準確地為用戶提供所需的數據。P-6是一種經驗豐富且可靠的晶圓測試和計量機器，用於多種行業，包括航空航天、制造、半導體和電子。對半導體薄膜進行精確、可重復和可靠的測量是一種行之有效的方法。KLA/TENCOR P6以其尖端的技術、無與倫比的精確度和精確度、靈活的報告功能以及實時的結果,是任何希望改進其晶圓測試和計量應用的組織必不可少的工具。
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