二手 KLA / TENCOR P-6 #9230786 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
![KLA / TENCOR P-6 圖為 已使用的 KLA / TENCOR P-6 待售](https://cdn.caeonline.com/images/kla-tencor_p-6_1016297.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
![KLA / TENCOR P-6 圖為 已使用的 KLA / TENCOR P-6 待售](https://cdn.caeonline.com/images/kla-tencor_p-6_1016307.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
![KLA / TENCOR P-6 圖為 已使用的 KLA / TENCOR P-6 待售](https://cdn.caeonline.com/images/kla-tencor_p-6_1016298.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
ID: 9230786
優質的: 2012
Stylus profiler
Standard range: Microhead 5 SR
Sample stage area, 6" diameter
Vertical range: 327 µm
Force range: 0.5 mg to 50 mg
Scan length: 150 mm
Z Range: 1 mm
Does not include PC
2012 vintage.
KLA/TENCOR P-6是一種先進的晶圓測試和計量設備,旨在評估各種晶圓和基材的質量控制和性能。它提供了一套全面的特性和功能,以確保晶片生產達到最高標準。KLA P-6系統能夠對直徑達6英寸(150毫米)的晶片進行高功率光學檢查、測量和分析,並具有可適應制造工藝不斷變化需求的晶片處理單元。它是為統一、準確和可重復性而設計的,能夠執行手動和自動操作。TENCOR P6機集成光學測試技術利用高分辨率成像和專用光學透鏡對表面進行缺陷和缺陷相關非均勻性的檢測和分析。它還具有一個多通道計量工具,能夠對晶圓表面進行一系列測量,並對不同晶圓類型進行定量比較。KLA/TENCOR P6資產包括用於檢測表面缺陷和表面缺陷的自動視覺檢查(AVI)模型,以及高級粒子分析功能。它還包括缺陷度量的綜合數據庫,可用於快速識別和定位晶圓中的任何缺陷。P-6設備的高級控制軟件是為易於使用和可靠性而設計的,具有靈活的配方系統,允許用戶為晶圓制造過程中的變化定制操作。它還包括一個健壯的警報單元,當檢測到不符合時向用戶發出警報,並允許方便地分析晶圓屬性。P6機器具有廣泛的其他功能,如自動處理和運輸、集成清潔室、晶圓級操作自動化以及集成的精密校準功能。它還包括幾個選項和附件,以使定制的解決方案適合任何工作流。總體而言,KLA P6晶片測試和計量工具是一種先進、先進的資產,為測量、測試和檢查晶片和基板提供了一系列全面的特性和能力。對於需要準確、可重復和可靠的晶圓測試結果的制造商和組織來說,它是一個理想的解決方案。
還沒有評論