二手 KLA / TENCOR P-7 #293632302 待售

KLA/TENCOR P-7是為先進半導體器件生產而設計的晶圓測試和計量設備。它提供了一個全面的計量套件，允許操作員評估晶片上的參數，如薄膜厚度、線寬、叠加和晶體管性能。它提供了一種集成、自動化和可重復的方式,以快速、無侵入的方式精確地表征晶圓特征。KLA P-7采用先進的光學和硬件,提供卓越的分辨率、速度和可靠性。為實現這一性能，系統采用多通道、多功能照明技術，快速可靠地測量和分析晶片表面的特征。高分辨率成像單元自動檢測缺陷、表征關鍵尺寸,並執行FIB成像以進行快速分析。它還可以高精度讀出大模具（300mm）。同時，該機具有支持大面積模式識別和模模匹配的先進模式匹配算法。TENCOR P7能夠快速準確地獲取和處理數據。其板載數據處理算法和數學函數允許分析和識別優化設備性能的過程，並具有相當大的可重復性。該工具還配備了直觀的圖形用戶界面（GUI），具有易於理解的功能和菜單。此外,該資產還具有高效的內置熱管理模型,可確保溫度穩定、精度和控制。這確保了晶圓測試和計量的最高精度,無論溫度如何.此外,該解決方案具有很高的容錯性和故障安全性,確保測量安全、可靠和準確。總體而言，KLA/TENCOR P 7晶圓測試和計量設備是先進半導體器件生產的絕佳選擇。其集成的解決方案、高效的熱管理和強大的數據處理算法使其成為快速、準確地測量和分析晶圓表面特征的完美工具。