二手 KLA / TENCOR P1 #165277 待售

KLA/TENCOR P1是一種先進的晶片測試和計量設備，便於對半導體晶片進行精確、高效的檢驗、測試和分析。該系統可測量各種晶片特性，包括厚度、電阻、光反射等晶片特性。KLA P-1采用模塊化體系結構設計,允許為各種晶圓測試過程集成一系列組件,如掃描儀和探測器。基本的TENCOR P1單元是P1-V（Vision）機，它是為測試模具和接觸墊等2D元件而量身定制的。TENCOR P1-G （GaDRS）工具是為測試深溝和連接通氣等3D元素而量身定制的。KLA P 1-AM（陣列測量）資產適用於具有高吞吐量要求的晶圓測試過程。KLA P1平臺的核心技術是其高分辨率成像能力，它基於跨多個波長的自動化多光譜成像。這允許對每個晶片進行精確分析和檢查，而動態掃描則允許對多個區域和高吞吐量進行精確測量。此外,P-1平臺還提供千兆像素成像,支持任何陣列測量應用程序的工業級分辨率。可以將各種光源集成到平臺中，以支持從2D檢測到3D元素立體視圖的應用。P1模型還具有用於數據采集、分析和報告的高級軟件。TENCOR P-1軟件為晶圓的選擇、處理和分析提供了最大的靈活性。許多內置功能（如自動化、數據庫管理、圖形用戶界面（GUI）和圖像歸檔功能）可實現高吞吐量操作。為確保最大效率和準確性,KLA/TENCOR P-1設備由內置傳感器和用於控制、維護和調整設備設置的閉環供稿提供支持。質量控制和校準過程可以很容易地實施。該系統還允許連接多個探針和儀器，使得在測量同一晶圓的不同部分時能夠進行簡單的並行過程。總體而言，KLA/TENCOR P1平臺是滿足半導體行業測試和計量需求的強大而可靠的單元。高分辨率成像、強大的軟件和自動化傳感器可實現高效、精確和可靠的測量。模塊化設計也是一項吸引人的功能,因為它易於集成、經濟高效和可擴展性。