二手 KLA / TENCOR P1 #293590370 待售

KLA/TENCOR P1是一種集成的計量和晶圓測試設備，旨在為半導體和MEMS器件提供高性能的單晶圓缺陷檢測和計量。該系統結合了一個最先進的光學成像單元和一整套先進的自適應計量工具，以生成關於各種晶圓結構和特征的準確、詳細的數據。該機器能夠快速有效地檢查一個試驗區的數百個晶圓結構和特性，使芯片制造商能夠識別和隔離缺陷，以便進一步分析。KLA P-1先進的光學成像工具在單個晶片上提供出色的小特性和結構分辨率。資產的振動阻尼使得在眾多圖像中具有很高的準確性和可重復性。該模型也具有很高的適應性，使用戶能夠選擇各種光源、放大倍率和光譜靈敏度，以適應不同的晶圓特性。TENCOR P1有助於快速審查和分析檢測過程中獲得的缺陷和缺陷集群的電性能。設備結合了兩個自動定位階段，與靜態計量階段相結合。這使系統能夠快速準確地映射多個測試站點的位置和大小，以確定可以審查和分析的缺陷位置。此外，該單元還提供了多個晶片的比較，使用戶能夠快速準確地識別不同晶片特性的趨勢。此外,TENCOR P-1還提供高級檢測功能。它的多個分析工具可以檢測和表征與組件的電性能相關的各種缺陷和缺陷。這些工具包括先進的激光脈沖化學和高精度化學制劑，用於查明異常特征和材料偏差。此外,該機器還具有一組獨特的復雜缺陷分類器,這些分類器嵌入到工具的算法中,可快速可靠地檢測幾乎無限範圍的晶圓缺陷和缺陷。總而言之，P-1是一種綜合計量和晶圓測試資產，旨在提供關於各種晶圓結構和特征的詳細數據。該模型具有卓越的光學成像設備和高精度計量工具，能夠對缺陷和缺陷群進行可靠的識別和分析。此外，其先進的檢測能力與系統的一組復雜的缺陷分類器相結合，提供了幾乎無限範圍的晶圓缺陷檢測和分析。