二手 KLA / TENCOR P1 #293608771 待售

KLA/TENCOR P1是一種晶圓測試和計量設備,旨在提供一種非常準確和經濟高效的方法來幫助客戶檢查和測量他們的產品。它利用成像傳感器和模式識別技術來分析器件的物理和電氣特性，包括半導體器件的結構和層厚度，以便進行工藝優化和控制。該系統適用於晶圓制造的所有階段，從晶圓檢驗到最終計量。它收集有關樣品的溫度、層結構、反射率、容量和電氣特性的信息。該單元技術的工作原理是收集數據以刪除測試晶片中不需要的區域,從而可以更輕松地查看感興趣的區域並更快地進行分析。它使用先進的成像機精確測量晶圓結構和1至6微米之間的層厚度，準確識別和分析缺陷。成像工具由高分辨率相機和發光二極管（LED）組成，可捕獲測試晶片的圖像和視頻，以確保每次測量的準確結果。該資產還能夠提供數據供進一步分析。它可以提供設備特性、結構溫度、工藝穩定性等相關數據的信息。KLA P-1專為需要對其產品進行高效生產測量的用戶而設計。它為用戶提供了若幹好處,例如提高了流程效率、降低了成本和縮短了周期時間,使他們能夠優化流程參數並開發新的流程技術。此外，該模型還配備了易於使用的軟件界面，方便數據訪問和分析。軟件包含一系列工具,使用戶能夠快速、輕松地訪問、分析和比較數據。總之，TENCOR P1晶片測試計量設備是一種先進的系統，為用戶提供了一種控制和優化半導體器件制造工藝的高精度、高性價比的方法。它配備了有益的功能，讓用戶能夠快速準確地測量、分析和比較數據。通過使用該單元,用戶可以提高流程效率並降低成本,從而使他們能夠獲得更高的準確性和對產品的控制。