二手 KLA / TENCOR P10 #293665059 待售
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已售出
ID: 293665059
晶圓大小: 3"
Surface profiler, 3"
Footprint (mm): 740 x 900 x 770 (WxDxH)
PC
Manuals.
KLA/TENCOR P10晶圓測試計量設備是晶圓測試計量的集成自動化平臺。該系統設計用於對薄晶片進行快速、準確的分析,能夠分析晶片厚度、均勻性和其他參數,直至亞微米分辨率。該股利用光學和X射線技術相結合,實時測量參數數據,並允許以高度詳細的視覺格式捕獲和收集數據。KLA P-10晶片測試和計量機由三個關鍵組成部分組成:測試X過程單元、光學站和X射線站。Test-X單元負責控制晶圓測試的整個過程。它允許晶片到晶片的跟蹤,並提供先進的晶片操縱和處理。光學站提供高分辨率成像工具和處理和分析數據的強大算法的在線光學檢查。X射線站利用X射線分析技術,可以精確測量最薄的微觀結構層和最復雜的地形。TENCOR P 10晶圓測試和計量資產提供了一套全面的數據分析功能。它包括功能齊全的軟件,允許用戶處理和分析各種格式的數據,包括3 D結構分析、可視化和報告。此外,該模型還可用於一系列應用,如缺陷檢測、產量分析、產品鑒定和計量。該設備設計用於高通量操作,每分鐘最多可采樣8個晶圓。TENCOR P-10晶圓測試和計量系統設計為提供準確、可重復的高可靠性測試。它包括一個自動校準單元,以確保測試在多個研究中始終準確,並且該機器的設計符合業界和政府要求的ESD和其他標準。該工具配備了一系列數據存儲和通信選項。它包括一個集成的數據捕獲和報告資產,可以快速存儲和訪問數據。此外,該模型還可以連接到其他網絡,並可用作遠程或自動控制的平臺。總體而言,KLA P 10晶圓測試和計量設備是晶圓測試和計量的集成自動化平臺。它提供了一系列特性和功能,使其成為測試薄晶片和精確測量參數的理想工具。
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