二手 KLA / TENCOR P10 #9159738 待售

KLA/TENCOR P 10是一種晶圓測試和計量設備,旨在提供精確的計量和缺陷檢測,以改進過程控制和降低生產成本。該系統具有最先進的光學設備、雙區域測量和出色的模式識別功能,適用於各種應用。KLA P-10的板載光學器件包括使用高分辨率百萬像素相機的DUV（深紫外線）成像單元、多束激光束和集成頻閃鏡。這種獨特的光學組合允許檢查員級測量精度和圖像對比度。聚焦成像光學進一步提高了圖像質量，提高了缺陷檢測和測量的靈敏度。在成像方面,TENCOR P 10具有雙區域分析（DAA）機器,可同時測量晶圓的正面和背面表面。該工具能夠監控設備級別的變化，擴大流程優化機會的範圍。在模式識別方面，TENCOR P-10利用專有算法來幫助識別晶圓表面上的無關粒子。這有助於檢測現場的隔離缺陷和缺陷群集。資產的高級軟件進一步提高了KLA P 10的準確性。它提供掃描電子顯微鏡分析（SEMA）集成和直觀的用戶界面以方便晶圓測試。SEMA集成允許KLA/TENCOR P 10更精確地測量小顆粒，並提供缺陷特征的深入分析。直觀的圖形用戶界面簡化了操作,並允許對獲取的圖像進行分析。最後，TENCOR P 10是一個可靠的晶圓測試和計量模型，可以提供最高水平的精度、準確性和靈敏度。它結合了先進的光學、雙區域分析和專用軟件，使其成為缺陷檢測和工藝優化的完美解決方案。KLA/TENCOR P-10是尋求提高產量、質量和底線性能的半導體制造商的理想工具。