二手 KLA / TENCOR P10 #9293254 待售

KLA/TENCOR P 10是一種具有幾個關鍵特點的晶圓測試和計量設備。它是專為業界領先的性能線掃描晶圓計量應用而設計的。KLA P-10配備了最新一代的掃描技術和高分辨率成像能力，以確保其測量的準確性和可靠性。利用一套光學和觸覺技術,TENCOR P 10可以測量整個晶片表面的各種關鍵設備參數,包括表面輪廓、圖樣輪廓、汙染、薄膜和光伏特性。該系統的光學顯微鏡功能允許測量晶圓特性到納米級，而其探針掃描技術在設備測量中保持最高精度。P 10包括一系列工程工具，允許用戶自定義他們的計量過程，並為專門的應用程序定制算法。它還具有一個集成的數據分析平臺，用於高效的數據處理和分析。該設備適用於溫度範圍為0°C至80°C的極端環境。TENCOR P 10先進的控件和高分辨率的精密光學使其成為半導體行業計量應用的理想選擇。它也適用於測量具有高吞吐量的微型模式。P10對於測量單、雙面和多層結構是非常可靠和高效的，使其成為檢查各種大小和形狀的晶片的完美工具。配備精密激光檢測技術的KLA/TENCOR P 10能夠精確測量晶片上圖樣缺陷的相對計數以及其他各種表面特性。該機具有自校準功能，具有低功率激光源，維護最少。KLA P 10還提供了一個集成光譜分析模塊，用於精確、可重復的光譜結果。P-10是為晶圓計量應用中的行業領先性能而設計的綜合性工具,具有高精度、可靠性和精確度。它非常適合半導體制造中的線掃描晶片測量和測試,提供各種定制測試和分析的工程工具,以及集成的一套光學和觸覺技術。