二手 KLA / TENCOR P10 #9293513 待售

KLA/TENCOR P 10是一種先進的晶圓測試和計量設備，設計用於檢測微觀測試缺陷。它提供了對物理晶片特性的快速、準確和可靠的測量。該系統結合了最新的非接觸式和光學測量技術。它被設計為滿足半導體器件生產、微電子、光學材料加工等先進晶圓工藝和測量要求。KLA P-10單元提供四個級別的高精度和精確測量。它具有可靠、精確的樣品界面，有助於準確映射測試缺陷。該機器還提供高速自動運動控制，在幾納米範圍內精確。它結合了多種光源、復雜的對準系統、鏡頭、鏡子和相機。這樣,它就可以精確測量各種測試特性,例如曲面輪廓、線寬和曲面上方/下方的缺陷。在光學測量方面，TENCOR P 10工具利用了多種成像和掃描技術，包括立體顯微鏡、偏振和鏡面剖面圖。這些技術采用先進的設備來生成晶圓表面的詳細圖像。資產還配備了高精度的電動旋轉級，幫助其以選定角度精確測量曲面。KLA P 10模型可用於廣泛的晶圓測試和計量應用。其中包括故障分析、集成電路的表征、IC覆蓋的對準以及光學傳感器系統的表征。此外，該設備提供高分辨率、高保真信噪比的數字成像，對於檢測晶圓的精細表面和特征細節非常有用。這有助於檢測和分析微小的缺陷以及測試模式的映射。總體而言，P 10晶片測試和計量系統是準確檢測測試缺陷和測量晶片物理特性的有力而可靠的工具。它結合了最新技術和高精度和精確度，以確保高質量的結果。