二手 KLA / TENCOR P10 #9399254 待售

KLA/TENCOR P 10是一種高精度晶圓測試和計量設備，設計用於先進的材料表征和工藝以及缺陷監測。該系統設計用於掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）半導體器件、集成電路和其他材料的映射應用。KLA P-10單元結合了復雜的成像、自動切片、高分辨率沈積以及全面的成像和表征能力，以實現全面的晶圓檢查和分析。該機包括納米級分辨率掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、拉曼光譜、化學成像等一系列集成技術。這個先進的工具提供了對設備特性如地形、缺陷幾何形狀、平面度、深度和化學成分的快速準確的測量。該資產提供了一系列自動化功能,非常適合進行測量,例如自動焦距和焦點位置控制,以及缺陷優化。此外,該模型還具有廣泛的計量套件,用於自動晶圓級缺陷分析。TENCOR P 10有先進的軟件工具用於測量結果的分析和報告。直觀的圖形用戶界面使用戶能夠快速查看、分析和處理數據。自動化工具簡化了從圖像中提取定量計量數據的任務。一套廣泛的分析算法使設備能夠識別和分類圖像中的各種模式、特征和缺陷。該系統能夠捕獲分辨率高達1微米、厚度小至2nm的圖像。它有一個高精度的定位單元，使樣品能夠快速對齊和聚焦。此外，該機與廣泛的基材和材料兼容，包括半導體材料、石英、藍寶石和玻璃。綜上所述，KLA/TENCOR P 10工具先進的設計和精密的技術使用戶能夠快速準確地分析集成電路等材料。該資產提供高分辨率成像、自動切片以及全面的晶圓檢查和分析功能。全面的軟件工具使用戶能夠輕松查看、分析和操作數據,以實現更有效的測量和分析。這種高精度模型非常適合廣泛的材料表征和過程以及缺陷監測應用。