二手 KLA / TENCOR P10 #9410939 待售

KLA/TENCOR P 10是專門為大型集成電路（LSIC）、光電、MEMS制造商設計的晶圓測試和計量系統。KLA P-10使用強大的行業標準組件構建,並利用多探針配置在多個點測試每個晶片。它提供綜合的計量能力，將成像和電氣測量相結合。此外,它還提供了多種測量功能,例如晶體管設備和其他表面特征的映射、多重放大成像、有源光散射測量（AOS）、通量測量和電氣I-V測試。TENCOR P 10的多探針配置在測試元件位於晶圓不同區域的產品中往往是有利的。通過在晶片的每一側以及沿圓周的探針點,可以在多個位置進行測試。TENCOR P-10還為用戶提供了根據其特定應用程序選擇的探針,包括模具間探針和邊緣探針選項。雙位置功能最大程度地減少了探針邊緣對測量的影響。KLA P 10的成像功能包括多種功能,如門延遲電路、觸點、特征、隔離寬度、殘留阻塞和泄漏、分層、顏色對比、表面堅固性、地形和橫截面成像。光學晶片檢查功能還為用戶提供晶片形狀、平整度、經度和線寬的精確成像。此外,KLA/TENCOR P-10能夠進行有源光散射測量（AOS）,使用戶能夠快速獲得準確的測量結果,而無需手動定義電平。KLA/TENCOR P 10還提供多種電氣測試功能，如晶體管特性（I-V）、晶體管建模、直流阻抗測試和可靠性測試。這使用戶能夠快速分析晶體管並測試其可靠性和性能。再者，KLA P 10配備了一個低噪聲放大器/高速系統，用於測試納米級器件。這樣可以確保準確檢測到脈沖,從而實現更精確的測量。總之，P10是一種通用的晶圓測試和計量系統，為大型集成電路（LSIC）制造商提供了許多功能。它具有以客戶為中心的功能,如多探測器配置、成像和電氣測量、通量測量以及有源光散射測量（AOS）,可實現更好的質量控制和實時過程反饋。