二手 KLA / TENCOR P11 #293593192 待售

KLA/TENCOR P 11是一種晶圓測試和計量設備，設計用於測量半導體晶圓的物理和電氣特性。該系統允許操作員快速準確地捕獲有關特征幾何、光學特性和電氣特性的全面數據。KLA P-11具有先進的定位和增強技術,能夠跨多個芯片精確測量。在物理特征方面，TENCOR P 11利用了傳統的幹涉成像技術，使得晶圓上的特征能夠根據廣泛的參數進行精確的幾何表征。高分辨率成像和精確聚焦服務可以捕獲精確的三維測量。通過最先進的視頻顯微鏡技術，用戶還能夠識別和隔離晶圓上的異常或缺陷。該單元可實現10微米的測量分辨率，便於對各種樣品進行精確的計量。在電氣表征方面，TENCOR P 11配備了探頭、反射探頭、光束探測器、電壓對比度顯微鏡等多種設備。這些在芯片級別捕獲和測量電氣特性,包括電路的工作功率和頻率、設備的性能以及晶體管的功能。P11還允許對設備進行精確的電氣測試,包括電阻測量和電流泄漏。自動校準和自學算法可以提高準確性和可重復性。P 11提供增強的自動化功能,以減少人為錯誤、提高吞吐量和高效處理大量晶圓。通過其強大的分析，KLA P 11可以一次處理許多晶片，使制造商能夠快速識別異常值或潛在菌株。全面的數據采集和晶圓註冊功能使KLA P 11能夠存儲數據並快速分析以生成報告。P-11是半導體晶片先進測試和計量的有力工具。憑借其先進的成像和電氣表征能力,該機器能夠快速準確地分析樣品,從而提高產量並提高設備質量。