二手 KLA / TENCOR P11 #293674887 待售

KLA/TENCOR P11晶片測試計量設備是一種高精度的晶片檢測階段，目的是提供高效、準確的晶片缺陷分析。該系統是利用光學成像和測量獲取晶圓表面廣域圖像的自動化集成檢測平臺。然後用尖端成像和表征技術對這些圖像進行分析，以便在微觀水平上仔細檢查晶圓材料。KLA P-11晶片測試和計量單元由一個堅固耐用的表面級組成，可容納用於照明、放大和控制晶片的精密光學器件。這種先進的成像光學進一步提高了圖像的分辨率和信噪比。此外,表面級是高度模塊化的,可以集成到現有的檢查環境中。此外，TENCOR P 11還包括直觀的數據處理算法和特定於fab的目標，以便對樣本進行快速、可靠的分析。本機采用反射成像和散射光學顯微鏡進行缺陷檢測，並對缺陷數據進行直觀回顧和報告。數據處理算法使得能夠分析晶圓級上的納米顆粒缺陷。此外,P11還提供了各種功能,如線和邊緣剖析。這些功能通過測量缺陷的亮度和對比度來幫助確定缺陷的存在和大小。該工具還具有圖像增強功能,可以觀察所分析材料中的深度細節和邊緣。此外,P-11 Wafer測試和計量資產為一系列操作平臺提供軟件支持。這包括用於數據記錄/回放、圖像處理和光學模擬的軟件。它還預先加載了成像和測量功能庫,並具有集成其他分析軟件的能力。最後，KLA/TENCOR P-11具有集成的工業運動控制模型，提高了晶圓對準、掃描速度和精度。這使用戶能夠生成具有增強圖像測量效果的高分辨率樣本圖。總體而言，KLA P 11晶片測試和計量設備是高分辨率樣品缺陷分析的可靠且質量驅動的解決方案。KLA/TENCOR P 11利用直觀的數據處理算法和特定於晶圓廠的目標，使用戶能夠在微觀小規模上實現高效準確的缺陷檢測。先進的成像光學進一步提高了圖像的分辨率，集成運動控制系統提高了掃描速度和精度。KLA P 11結合直觀功能、軟件支持和集成系統，為晶圓分析提供了可靠而強大的平臺。