二手 KLA / TENCOR P11 #293718563 待售
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單擊可縮放
ID: 293718563
Film thickness measurement system
Scan length: 60 mm
Stage size: 170 mm
Stylus pressure: 0.5-50 mg
Scan speed: 1 µm/sec
X and Y Positioning speed: 25 mm/sec
Maximum travel distance: 205
Resolution: 0.5
Power supply: 100 VAC, Single phase, 50/60 Hz.
KLA/TENCOR P 11是一款晶圓測試和計量設備,旨在幫助競爭激烈的半導體行業團隊開發下一代芯片和器件。該系統提供精確的晶圓特性和測量能力,以確保正在創建最先進的工藝和產品。KLA P-11消除了在測量過程中與晶片的物理接觸,確保晶片在測試過程中從未受到損壞或汙染。該單元還使用增強成像技術,快速準確地識別晶圓中可能存在的任何缺陷。機器的特性和計量能力為用戶提供了卓越的分辨率。它可以測量高達300納米厚,允許進行最精確的測量。TENCOR P 11還具有在單個測量中測量多個維度的能力,允許更快、更高效的測試和測量。KLA/TENCOR P 11具有廣泛的軟件工具來幫助分析晶圓。Analyze軟件可以進行多種測量,並以各種格式進行顯示。也可用於目測缺陷,可視化晶片的物理結構。P-11包括自動缺陷檢測技術,允許快速、準確地檢測缺陷。P 11還具有比其他系統更快處理數據的能力,使得對結果的分析既快又容易。它具有每小時分析多達1000個晶圓的能力,使其成為目前市場上效率最高的晶圓測試系統之一。總體而言,P11是一個功能強大且復雜的工具,使半導體行業的團隊能夠監控和分析其流程,從而創建更先進的產品和流程。通過提供卓越的分辨率、先進的成像技術和一套軟件工具,TENCOR P-11可幫助用戶確保生產可靠和準確的產品。隨著效率和速度的提高,KLA P 11對於希望保持領先地位的任何團隊來說都是必不可少的。
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