二手 KLA / TENCOR P11 #9248607 待售

KLA / TENCOR P11
ID: 9248607
晶圓大小: 6"-8"
Surface profiler, 6"-8".
KLA/TENCOR P 11是一種最先進的晶圓測試和計量設備,設計用於在半導體制造過程的每個步驟提供快速準確的過程控制反饋。它結合了缺陷檢測、叠加計量和缺陷審查的特點。該系統與各種探針卡和與業界領先的掩碼規則檢查器兼容的掩碼模式兼容。KLA P-11搭載高清HD超分辨率技術,提供卓越的晶圓成像能力,提升缺陷檢測精度。該單元采用先進算法分析晶片圖像,分析缺陷,從而實現準確可靠的缺陷分類和缺陷審查。這允許快速和準確的缺陷識別,允許非常微小的非均勻性晶片被快速和準確地識別。TENCOR P 11采用多傳感器方法進行非接觸叠加計量。這樣可以在掩模和底層矽片之間進行快速、準確和可重復的對齊測量。通過體素對準和檢查底層矽片的表面拓撲,可以在多個晶片和地段上保持這種對準的準確性。KLA/TENCOR P-11晶圓測試和計量機運行在一個標準的現成計算平臺上。它在工具屏幕上提供了一個直觀的用戶界面,其中包含一組結構良好的菜單和按鈕,使操作員能夠快速訪問所有資產模式、參數和設置。綜上所述,P11是一種最先進的晶圓測試和計量模型。它提供了卓越的晶圓成像功能,用於檢測缺陷的準確性、用於非接觸叠加計量的準確且可重復的結果,以及結構良好的用戶界面,使操作員能夠快速高效地管理整個過程。
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