二手 KLA / TENCOR P11 #9250103 待售

KLA/TENCOR P 11晶片測試和計量設備是一種先進的自動化光學檢驗和計量系統，能夠對晶片和產品進行實時性能監測和過程控制。利用高分辨率光學顯微鏡，KLA P-11能夠準確分析晶片特性、模具均勻性，相對測量精確的產品厚度和叠加偏移。TENCOR P 11利用8「或12」英寸的視場，數值孔徑（NA）低至0.18，提供1微米的精度分辨率，以及高達每秒8幀的快速圖像采集速率。廣泛的光學元件為生產線的應用支持提供了全面的參數和測量類型，包括幾何和蝕刻分析、文檔審閱和網絡驗證。KLA/TENCOR P 11還提供了快速可靠的缺陷分類功能,允許用戶快速分析大量數據,只需單擊一次即可立即獲得結果。特殊算法自動檢測和分類缺陷，為半導體晶片和材料的表征、分類和驗證提供了可靠且可重復的過程。P11的主要模塊包括計量、審閱和模式搜索以及缺陷審閱平臺。直觀的用戶界面使操作變得簡單,並消除了冗長的設置時間。數據輸出存儲在一個集中的存儲庫中,從而可以查看和訪問實時性能指標,同時促進與全局缺陷庫共享缺陷知識。TENCOR P-11單元還提供了可追蹤性和分析以及凈/收益管理功能。這臺機器使用精密的電容式傳感器，能夠以三維圖像可視化檢查結果，非常適合工業級晶圓工藝監測和缺陷分析。最後,工具管理器工具使用戶能夠監控資產性能並運行各種質量保證測試。KLA P 11是一種極為通用的工具，用於檢查、監測和分析當今生產線中的晶圓和產品。該工具有助於確保過程的可靠性和準確性,以確保高性能結果和產量。