二手 KLA / TENCOR P11 #9355497 待售

KLA/TENCOR P 11是KLA開發的晶圓測試和計量設備。它使用領先技術對各種半導體材料進行精確的測量和數據解釋。該系統采用線性掃描級設計,用於渲染大形狀、長運動範圍,並具有高可重復性,以確保精度、重復性和準確性。KLA P-11能夠測量晶片的物理特性，如厚度、平坦度、曲率半徑、斜角和半徑，以及電容、電阻和介電特性等電氣特性。它使用基於閃電快速CMOS的成像單元來檢測晶圓表面的缺陷，並使用自動計算機輔助計量功能來量化此類缺陷。機器的高分辨率成像能力使得能夠檢測晶片上的微小缺陷，TENCOR P 11的4軸測量頭能夠在短時間內精確掃描各種材料。它還能夠用高度精確的步進控制掃描粗糙和光滑的表面。該工具還具有用於識別公差和量化組件之間差異的高級分析算法。它可以以不同的速度和精度水平測量多個方向上的各種特征，從而實現精確和快速的結果。TENCOR P-11提供直觀的用戶界面和靈活的聯網功能；允許從各種平臺進行遠程訪問和控制。它還涵蓋了從8「到12」的各種晶圓大小,旨在促進高吞吐量並保持較低的總擁有成本。P-11是半導體制造質量控制的通用工具，提供可靠、精確和準確的結果。它具有豐富的特點和靈活的設計，是任何半導體制造工廠的完美工具。