二手 KLA / TENCOR P11 #9381675 待售

ID: 9381675
晶圓大小: 4"-8"
Surface profiler, 4"-8" Manual handler.
KLA/TENCOR P 11是一種堅固而高效的晶圓測試和計量設備,能夠對半導體晶圓進行質量評估。它具有先進的自動化和高吞吐量功能,適用於開發和生產測試階段。KLA P-11具有很高的吞吐量階段,具有快速、準確的定位和自動對焦功能,非常適合測量復雜的晶圓輪廓。它配備了先進的射頻(RF)數據采集系統,能夠更快地測量厚度和缺陷大小等臨界特性。它還配備了高分辨率紅外(IR)成像來檢測表面缺陷,並且具有非常快的階段釋放機制,減少了循環時間。TENCOR P 11旨在提供半導體晶圓計量和測試的高精度。它采用專有專利計量和數據采集技術,能夠進行深入的診斷和分析。該單元具有高精度掃描系統,以精確檢測薄膜和厚膜,以及非常小的缺陷。它還具有先進的圖像處理算法,能夠快速檢測、分類、分類和打印諸如粒子、空隙和分層等關鍵缺陷。此外,P 11機器提供了一系列缺陷分析功能和數據分析工具,能夠準確預測產量趨勢和故障分析。P-11支持自動模式識別,使其能夠快速檢測和處理形狀和大小各異的特征圖像。憑借其先進的光學系統和專有的軟件技術,它能夠進行各種不同的晶圓測量,如輪廓高度、邊緣拉力、蝕刻深度、抗厚度、地形、晶體缺陷、薄膜沈積和擴散深度,跨越一系列不同的材料。KLA/TENCOR P 11工具還具有生產階段的實時非接觸式監控功能,提供實時警報以提醒操作員潛在的產品質量問題,允許采取主動糾正措施以防止成本高昂的生產延誤。此外,該資產還包括一個通用的控制接口,便於非專家操作員進行高效和有效的操作。總體而言,KLA/TENCOR P-11是一種先進、可靠、高通量的晶圓測試和計量模型,旨在提供對半導體晶圓的精確測量。TENCOR P-11以其先進的光學和軟件技術、精確的缺陷分析能力以及多用途的控制界面,是高容量晶圓生產環境的理想選擇。
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