二手 KLA / TENCOR P15 #293633404 待售

KLA/TENCOR P15是一種先進的晶圓測試和計量設備,可實現高精度、自動化缺陷和產量管理。該系統采用集成平臺，以確保測試各種半導體晶片的最高效率和準確性。KLA P-15單元利用了兩項先進技術,即Bright Field （BF）和Dark Field （DF）成像技術。BF機提供晶片表面的整體畫面，捕捉使用掃描電子顯微鏡等傳統方法無法看到的缺陷。BF工具也用於識別小缺陷類型，如顆粒、應變、裂紋和凹坑。除了BF資產外，TENCOR P 15還采用DF模型在晶圓內部深入觀察。該設備比BF系統具有更大的分辨率，使其能夠以更高的精度檢測晶圓上甚至更小的缺陷。通過增強分辨率,DF單元能夠檢測晶片內缺陷和模具間缺陷,以及可能存在的任何結構問題。此外,DF機用於測量精確的幾何形狀並確保晶圓的精確尺寸。KLA/TENCOR P 15工具對於晶圓測試和計量應用具有高度精確可靠的特點，為精度和速度提供了一套全面的特點。它的自動化測試算法、高分辨率成像功能、強大的晶圓處理組件、新穎的照明模式和高級數據分析功能使其成為各類半導體晶圓測試和計量應用的理想解決方案。TENCOR P15還包括一系列自動化的測試例程,這些例程支持高通量分析,同時提供有關每項測試結果的實時反饋。這使得識別制造問題和產量並確定其優先級變得更加容易,從而允許制造商在需要時迅速采取糾正措施。此外,資產的模塊化、可擴展設計允許用戶隨著時間的推移構建模型,從而使他們能夠隨著業務的增長和發展而提高其容量和性能。總體而言,KLA P15是一種先進的晶圓測試和計量解決方案,它提供了一套全面的特性和功能,使制造商能夠實現最高的質量和效率。P-15具有高精度成像功能、自動化測試例程以及模塊化、可擴展的設計,非常適合任何半導體晶圓測試和計量要求。