二手 KLA / TENCOR P15 #293657257 待售

ID: 293657257
優質的: 2003
Surface profiler 2003 vintage.
KLA/TENCOR P15晶圓測試和計量設備是半導體工業的前沿工具。它是一個由多種儀器組成的系統,旨在識別、測量和分析半導體晶片內廣泛的物理性質。該單元具有高性能成像技術結合先進的分析和處理算法,使其能夠快速準確地分析測試結果。它能夠測量各種晶圓特性,包括晶圓平坦度、總側壁粗糙度和地形。它還具有先進的缺陷檢測能力,使其能夠檢測到顆粒、凹坑、劃痕和腐蝕損傷等缺陷。它旨在在整個晶片堆棧中實現快速和可重復的測量。該機配備了先進的控制架構,提供全面自動化的測量和分析操作。它包括用於監視和控制工具內部環境條件的傳感器,以及用於精確樣品定位的精確階段。其軟件具有用戶友好的圖形界面、自動報告功能和完整的數據存儲功能,以確保測量的可追蹤性。KLA P-15資產非常適合各種半導體制造過程,包括3 D半導體集成、高級光刻計量、後端過程跟蹤和封裝調查。它的高分辨率能力和自動化軟件使其成為高級半導體研發的理想選擇。該型號配備處理各類樣本量,容量可達200毫米晶圓,與多種測試方法的兼容性使其成為表征項目特別合適的選擇。因此,TENCOR P 15晶圓測試計量設備是半導體行業可靠、精確、易於使用的工具。其廣泛的兼容性、自動化能力和高分辨率成像技術使其成為表征項目、研發和生產線質量控制的理想選擇。
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