二手 KLA / TENCOR P15 #293827959 待售

KLA/TENCOR P15晶片測試和計量設備是一個先進的半導體測試平臺，用於識別和測量用於制造模具的薄矽晶片的缺陷、汙染和均勻性。該系統具有卓越的工作效率和功耗,可提供快速準確的計量方法,快速檢測任何類型晶圓的模式缺陷和變化。KLA P-15包括一個表面分析單元（SAS），提供高分辨率的表面質量映射和檢查能力。該機器還具有集成的測量軟件套件,允許用戶設置和控制測試配置、評估結果以及獲取各種格式的數據。再者，TENCOR P 15擁有包含1mm和7mm OAV（Optical Automation Vision）測量的整合軟體包。OAV測量允許工具在考慮晶圓地形效應的同時精確測量線性寬度、線距和螺距。此外，KLA/TENCOR P-15的設計還能承受惡劣的環境，包括輻射暴露和振動。它配備了一個獲得專利的Beam-Well專利工具，可以提高檢測精度，假人，並提供穩定的結果。資產還與自動缺陷和粒子分析軟件完全集成，確保快速、精確和無需人工幹預地進行所有測量。P 15晶圓測試和計量模型還具有一系列對操作員友好的功能，例如使用用戶友好的圖形用戶界面進行快速訓練，無損測試（NDT）和易於數據生產。為了增加便利,它配備了基於Cloud的客戶端服務器體系結構,允許操作員訪問實時流程結果,並同時跟蹤晶圓進度。KLA/TENCOR P 15的設計完全符合當前批量可追蹤性要求,並具有完全符合FDA G-10的要求以及完整的審核跟蹤功能。設備速度快、可靠，產生準確的實時數據，為客戶提供即時可操作的智能。