二手 KLA / TENCOR P15 #9103024 待售

KLA/TENCOR P15是一種晶圓測試和計量設備,旨在為具有挑戰性的過程（如IC設備開發、IC制造和其他專用應用程序）提供安全、高精度和可重現的結果。該系統能夠對微處理器、DRAM、FPGA和其他半導體器件的任何尺寸、形狀或幾何形狀提供準確、可重復的測量。它旨在實現半導體工程、工藝研究、產量優化和晶圓級診斷。KLA P-15單元具有最先進的技術,例如具有測量和觀察功能的全場成像、自動特征識別和缺陷檢測,以及全自動的現場光掩模檢查。該機器有助於對快速發展的市場結構、設備幾何形狀和過程變量進行可靠、可重復和準確的檢查。TENCOR P 15由一個多功能、高精度的光學平臺組成，具有一套目標、相機和光源。它具有16位測量分辨率,在從設備開發和缺陷檢測到計量等多種應用中提供精確的結果。此外，該工具還包括攝像頭頭、光學顯微鏡和單個平臺上的控制資產，以便於集成和操作。該模型還包括廣泛的測量和分析包，包括信號分析、焦點測試、叠加測量以及一整套計量軟件包，以確保對每個晶圓的性能進行完全控制。此外,還可以選擇一些高速硬件外圍設備,以提高準確性並發現細微的缺陷。總體而言,TENCOR P15旨在提供跨多個流程、幾何、子流程和設備配置的可靠、準確和可重復的測量。TENCOR P-15設備是半導體制造以及IC設計、開發和表征的理想工具。通過提供準確的測量和實時控制,KLA P15已被證明是幫助比以往任何時候都更快速地做出晶圓級決策和解決方案的有益工具。