二手 KLA / TENCOR P15 #9166831 待售

KLA/TENCOR P15是一種晶圓測試和計量設備,旨在準確高效地測試和分析當今半導體工業中使用的晶圓。該系統利用其三維自動特征識別（AFR）技術,允許對晶片進行高速分析,直至微觀尺度。此功能使KLA P-15能夠準確快速地識別形狀、特征大小和位置。TENCOR P 15是一個高解析度的單元，以快速電子束光機建造，可以捕獲高解析度的影像而不會失真。這種工具歷來被用作檢驗和測量精密零件和半導體晶片的工具。它的成像和分析能力現在擴展到包括缺陷檢測和故障分析。此外，KLA P15還具有測量深度、寬度和高度的能力，精度不超過1微米。KLA P 15具有容納多種晶片類型和尺寸的靈活性，從100毫米到300毫米不等。該資產采用堅固的焊接鋼架設計，在測試過程中可實現隔振和最高精度。先進的高功率計算機斷層掃描（CT）掃描和過濾功能有助於準確掃描和分析晶片數據,並實時捕獲晶片表面的3500多萬個特征。P-15具有直觀的用戶界面,並提供直觀的「拖放」功能,以快速自定義模型的測試和計量功能。此外,P15還能夠收集、存儲、編輯和導出高級數據。數據分析程序也可用於快速可視化結果和簡化通信。KLA/TENCOR P-15是一種先進的晶圓測試和計量設備,可用於眾多應用,並提供無與倫比的分析功能。其高分辨率成像、快速采集速度和直觀的用戶界面，使得TENCOR P15系統成為依賴準確可靠缺陷檢測和故障分析的行業的理想選擇。P 15為晶圓測試和計量提供了一個多合一的解決方案，是任何級別生產的必備方案。