二手 KLA / TENCOR P15 #9306139 待售

KLA/TENCOR P15是一種晶圓測試和計量設備，設計用於半導體和集成電路制造行業。它用於檢測和分析半導體晶片上的缺陷，並為工程團隊提供結果。KLA P-15系統可以使用高分辨率成像單元進行晶片檢查,並能夠精確測量樣本量和缺陷大小。它配備了一臺高分辨率的成像機，可以捕獲樣本圖像並執行一系列嚴格的測試。該工具利用光學和紅外成像和光譜以及檢測。為了測試晶圓，TENCOR P 15使用激光束技術和增加資產精度的專有算法。這些算法有助於模型區分不同的缺陷，並將它們與正常值和可接受值分開。該設備還可以高精度地測量晶圓的平坦度和厚度。此外，利用先進的激光幹涉測量技術，系統能夠檢測到亞微米尺寸的缺陷。P-15的循環速度非常快,只有一秒鐘,因此可以處理高吞吐量的生產線。該單元具有雙龍門安裝級，能夠同時在24個不同的自動裝載機上運行，提供了更大的靈活性。這種高通量能力及其檢測超小缺陷的能力使得TENCOR P15滿足復雜晶片測試需求的理想選擇。KLA P 15采用多種計量工具，包括CCD成像、光學反射法、多光譜法和AFM成像。這使得機器可以分析不同的特性，如晶粒大小和形狀、表面粗糙度和組成，使其成為一系列晶圓測試需求的理想選擇。KLA P15還提供準確的數據分析。該工具包括先進的基於模型的缺陷分類（MODCAL）算法，根據缺陷的特點自動檢測和分類。這有助於減少誤報,使專業人員更容易解釋數據和自信地做出明智的決策。總之，P15是一種可靠、精確的晶圓測試和計量資產，可以通過其精確的缺陷檢測和分析能力幫助確保產品的可靠性。該模型具有較高的吞吐量能力和1秒的快速循環速度,是大批量生產線的理想選擇,其先進的技術使其成為滿足復雜晶圓測試需求的理想設備。