二手 KLA / TENCOR P15 #9315027 待售

KLA/TENCOR P15晶圓測試和計量設備設計用於半導體材料和產品的快速、高效、自動化的測試和檢驗。利用自動光學檢查解決方案，該系統能夠檢測潛在缺陷，如微裂紋、粒子和其他缺陷。KLA P-15集成了特殊的成像、照明和分析技術，以快速捕獲晶圓表面的圖像並進行分析。該單元包括有助於識別和測量難以檢測的目標特征的專有特征識別算法。此外,TENCOR P 15還包含一套精密計量工具和高級測量。這些工具能夠精確精確地測量晶圓地形、尺寸和其他材料特性，如平坦度和輪廓。這些測量對於保持半導體行業成功所必需的精確尺寸要求至關重要。此外，P15由高精度傳感器組成，這些傳感器從晶圓表面剖面中捕獲精確的數據。這允許精確測量特征大小、距離、表面地形和許多其他表面特征。P-15還提供了用於分析、分類和報告結果的強大軟件工具。軟件的分析功能支持詳細的缺陷分類、數據檢查和統計摘要報告。該機器能夠存儲、分析和報告大量數據。報告功能使用戶能夠以有意義的方式向客戶提供信息。KLA/TENCOR P 15提供自動缺陷分類、報告和缺陷管理功能,可提高檢查效率,同時降低數據管理成本。此外,TENCOR P-15還包括到KLA在線缺陷管理工具的連接。這允許用戶遠程訪問缺陷數據,並安全地共享和協作數據。總而言之，KLA P15晶圓測試和計量資產是測量、檢查和分析半導體材料和產品的不可或缺的工具。憑借強大的成像技術、計量工具、分析和報告功能,KLA P 15為用戶提供了滿足其晶圓測試需求的可靠、高效的解決方案。