二手 KLA / TENCOR P17 OF #293666751 待售

KLA/TENCOR P17晶片測試和計量設備是一種高端計量系統，用於檢查半導體工業中使用的晶片基板。該單元結合了先進的評估和計量技術，包括全場成像、自動缺陷審查和重點離子束分析，以提供晶圓基板的詳細、全面的視圖。KLA P17 OF機由幾個模塊組成，包括一個紅外光學掃描子系統、一個500萬像素相機工具和一個高效、低功率的離子柱。紅外光學掃描資產支持全場成像，提供整個晶圓的詳細、高分辨率圖像。相機模型允許自動缺陷審查，對晶圓上的過程相關缺陷提供快速、可重現的審查。離子束柱對晶片上的局部目標區域進行了無與倫比的分析，進一步評價了過程相關缺陷。除了成像和計量組件外，TENCOR P17 OF還包括一個自動晶片分級設備，提供高度可配置的晶片制備和處理過程。分期系統允許晶片的精確、可重復定位以及與成像和計量組件的自動對齊。P17 OF具有完全集成的圖像捕獲、處理和顯示單元,為操作員提供了易於使用的圖形界面。直觀的用戶界面為操作員提供了計量操作所有領域的全面視圖。機器可以存儲以前運行的數據，允許操作員快速召回和分析運行以進行分析和比較。KLA/TENCOR P17 OF旨在滿足最新半導體工藝技術的需求,並提供尖端性能和測量能力。該工具非常適合掩蔽過程開發、過程控制和質量保證應用。該資產提供了無與倫比的準確性和可靠性,為最先進的技術節點中的半導體工藝工程師提供了可靠性保證。