二手 KLA / TENCOR P2 #293676473 待售

KLA/TENCOR P2是一種模塊化晶圓測試和計量設備，專為半導體制造業而建。該系統旨在利用最新的激光傳感和檢測技術，對矽晶片上的各種參數進行精確和可重復的測量。該單元有能力以非接觸方式對單個晶片進行多次測量，同時保持晶片的完整性。該機有兩個主要部件-探頭和計量模塊。探頭由多個傳感器、CCD攝像機和激光源組成，結合專有算法檢測和測量晶圓的各種特征，如厚度、平坦度、大小、形狀、反射率和電性能。測量的分辨率高達1納米,包括表面輪廓和翹曲的測量、晶圓的邊到邊均勻性以及任何表面缺陷或汙染。計量模塊負責處理和管理探頭收集的數據，並以多種格式輸出。該模塊配備了高級分析功能，如分層過濾、統計分析和多元分析。它還能夠容納多個用戶並允許他們實時訪問數據並與之交互。KLA P-2工具設計用於廣泛的研究和工業應用，如表面計量、地形剖析、圖像輔助計量和晶圓檢驗。它是一個通用、經濟高效、可靠的平臺，用於驗證和表征高精度晶片，以及用於測試和生產優質晶片。因此，它是半導體制造過程中不可或缺的組成部分。