二手 KLA / TENCOR P2 #9005127 待售

KLA/TENCOR P2是一種先進的晶圓測試和計量設備，設計用於晶圓級計量和缺陷審查。它使用最新技術檢查和分析晶片的缺陷，測量各種半導體和其他材料的電氣、光學和其他物理參數。該系統包括三個組件：主機單元、晶圓探測器和準分子激光器。大型機由光學顯微鏡級、自動prober級和晶圓處理機組成。它可以用橢圓偏振、偏振光顯微鏡、表面分析、吸收光譜和成像等一系列高分辨率成像技術進行分析。這些技術用於測量材料層、電流泄漏、層厚度、電阻率、表面粗糙度和光學特性。晶圓探針用於與晶圓接觸並進行各種測試。探頭包含一組接觸晶片表面的微型探頭。這允許與晶片接觸以測量電阻、電容和電感等電參數。探頭還測量電路的電位，流過晶圓的電流和監視器電壓下降。所有這些信息都用於缺陷分析。準分子激光器用於在要檢查的材料中蝕刻圖樣。這種激光束用於創建具有高度精度和精確度的微電路特性。激光束可以在精確度高於1微米的材料上產生微小的圖樣。激光束還可以用來檢測材料上無法使用標準顯微鏡檢測到的缺陷。KLA P-2是一種強大可靠的晶圓測試和計量工具，提供準確可靠的結果。該資產非常適合測量半導體和其他材料的電氣、光學和其他物理參數，可用於檢測材料中的缺陷。它廣泛用於半導體工業中，以確保制造過程中所用材料的質量。