二手 KLA / TENCOR P2 #9009073 待售

KLA/TENCOR P2是一種用於各種半導體分析的晶圓測試和計量設備。KLA的KLA P-2系統是用於設備表征的高精度工具,有助於降低半導體材料分析的成本和上市時間。TENCOR P 2單元具有集成平臺，具有一套聚焦測量功能和直觀軟件，用於精確測量材料的尺寸、形狀和組成，包括電阻率、板材電阻、移動性、擊穿電壓、薄膜厚度和臨界尺寸測量等特性。P-2機采用高速對準工具設計，使樣品晶片自動對準檢測區域，精度高，吞吐量高。這使得TENCOR P2資產能夠快速準確地測量樣品的各種特性，包括臨界尺寸、片狀電阻剖面、移動性特性和電阻率測量。KLA P2模型的集成平臺包括一系列技術,如激光幹涉測量和散射測量,旨在產生高度精確的物理和化學測量,為客戶提供有關其設備的大量詳細信息。這個集成的平臺允許進行多個維度的分析以及輔助測量,以便更深入地了解流程。人性化的TENCOR P-2軟件提供了統計和歷史分析等強大的分析工具。它允許操作員通過參數設置、聚焦和數據處理自定義作業，從而允許一個易於使用但功能強大的平臺。從原始數據到定制過程開發這三個不同的操作級別,P2設備是一個不可或缺的工具,可讓您的生產過程以盡可能高的準確性和可重復性運行。總體而言,KLA/TENCOR P2為晶圓測試和計量提供了高效、集成的解決方案,使用戶能夠快速、輕松地獲得準確、詳細的結果。KLA/TENCOR P-2系統具有一套先進的測量功能和直觀的軟件,是一個可靠的、業界領先的解決方案,非常適合執行各種設備表征任務。