二手 KLA / TENCOR P2 #9217450 待售

KLA/TENCOR P2是一種晶圓測試和計量設備，設計用於先進的半導體晶圓檢測和分析。它提供可靠、世界級的過程控制和缺陷檢測功能。KLA P-2使客戶能夠實現盡可能高的工藝產量、產量穩定性和工藝周期時間優化。該系統的模塊化平臺使客戶能夠根據自己的特定需求進行定制,並且該產品的設計具有最大的靈活性和可擴展性,因此非常適合任何尺寸的晶圓晶圓廠。TENCOR P 2具有高分辨率的FPD（平板顯示器）顯示屏，具有出色的圖像質量和可靠、易於使用的觸摸屏界面。該單元由幾個組件組成，包括光束偏轉機（BDS）、高壓電源和電子（HVSE）單元、大幅面白光相機（WLC）和實時圖像處理器（RTIP）。BDS單元負責將HVSE單元產生的光束偏離晶圓表面，讓WLC捕獲晶圓表面的圖像。RTIP負責處理WLC捕獲的圖像,並與工具的其他組件進行通信。WLC捕獲晶圓表面的高精度圖像,並提供實時缺陷檢測功能。該資產可用於識別晶片上的一系列缺陷，包括：表面缺陷、表面不規則、平整度問題、顆粒汙染、應變層等等。KLA/TENCOR P-2支持一系列計量選項,例如光學和電氣測量,以全面了解晶圓的表面。TENCOR P-2提供多種選項，包括廣泛的檢查模式、目標同步技術、現場數據存儲和高級數據處理能力。該模型還可以與第三方系統集成，使客戶能夠利用其功能。綜上所述，P2是一種強大可靠的晶圓測試計量設備。它為先進的缺陷檢測和提高工藝產量提供了一個理想的平臺。該系統高度可定制,使客戶能夠配置該系統以滿足其特定要求。TENCOR P2使客戶能夠獲得準確可靠的晶圓測試和計量結果，是半導體晶圓制造的理想解決方案。