二手 KLA / TENCOR P2 #9284967 待售

KLA/TENCOR P2晶片測試和計量設備是一種通用、綜合的計量解決方案,用於自動相對放置、模對數據庫對準、圖像檢查、精確計量以及特征、尺寸、形狀和方向分析。該系統設計用於半導體、平板顯示器和微機電系統（MEMS）行業的生產和研究環境。KLA P-2由若幹組成部分組成，這些組成部分共同努力實現可靠和準確的測試和計量。它具有區域陣列攝像頭和多軸運動控制器，兩者都執行高精度對準和特征識別操作。相機主動捕捉晶片的整個表面，並將圖像轉換為數字信息。然後將此數據傳輸到運動控制器,從而允許將晶片自動相對放置到布局模式。運動控制器還將晶片布局與存儲的數據庫對齊,並用於檢測缺陷,如劃傷的曲面和不匹配的特征。此外，TENCOR P2與光學計量單元集成，用於測量晶圓特征的大小、形狀和方向。這臺機器使用激光陣列提供各種材料的精確測量，包括薄膜、電阻器、晶體管和物理結構。該工具是可配置的,可定制用於測量不同類型的形狀,如圓柱或錐形曲面。此外,它還可用於測量不同的厚度,如基板或折射率,甚至可以測量晶圓上可能存在的異物。KLA/TENCOR P-2資產還具有模對數據庫對齊模型，用於分析和檢測晶圓在生產過程中的缺陷。該設備支持晶片的正面和背面檢查,並允許自動放置全晶片模具。TENCOR P2還提供高級圖像處理功能,如缺陷檢測、降噪和顏色校正。KLA/TENCOR P2是一種全面的晶圓測試和計量解決方案,能夠對晶圓特性進行精確、準確和自動化的測試和測量。它專為提高生產效率和精度而設計，適用於廣泛的行業，包括半導體、平板顯示器和MEMS。