二手 KLA / TENCOR P2 #9383469 待售
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KLA/TENCOR P2晶片測試和計量設備是一種自動化的非接觸式光學平臺,能夠測量所有150 mm和200 mm晶片尺寸的高精度表面特征。KLA P-2系統具有專用的高分辨率顯微鏡，用於在處理前後捕獲晶圓清晰準確的圖像。顯微鏡配備了大視野、增強的空間分辨率和可選的紫外線照明，以確保拍攝精確的晶圓圖像。該單元設計用於多種格式的圖像捕獲,包括非接觸成像、放大點模式設計和先進的KLA專有成像技術。TENCOR P2機的光學成像可以檢測到的缺陷，如顆粒、凹坑、劃痕、圖樣缺陷，可以用來保證產品的高產和質量。該工具還運行用於缺陷表征的高級算法,允許用戶在制造過程中準確識別和標記缺陷並隔離故障區域。此外,該資產還具有強大的分析功能,可以更深入地了解產品和過程數據。P-2型號還具有健壯的自動處理設備，適合處理8英寸至12英寸尺寸的晶片。它具有熱卡盤，可以確保晶片在測量過程中保持一致的溫度，從而實現精確的測量和可重復的結果。該系統具有用於自動晶片處理和放置的高級機器人技術，在整個檢查過程中消除了晶片的手動處理。P2設備可提供可重復的測量結果,並具有良好的性能和可靠性記錄。它具有模塊化的設計，可根據需要輕松擴展，並與其他TENCOR系統集成，如高級模式識別和過程控制系統。這使用戶能夠輕松擴展其檢查功能,以涵蓋廣泛的產品規格和行業。TENCOR P-2晶片測試計量機是一種最先進的平臺，旨在為提高產品質量和產量提供準確可靠的晶片測量。KLA P2工具憑借其卓越的成像光學、自動化晶片處理以及集成的過程控制解決方案，是半導體、LED、MEMS等行業的強大檢測解決方案。
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