二手 KLA / TENCOR P20 #293628464 待售

KLA/TENCOR P 20是一種晶圓測試和計量設備，使用CCD成像器件與先進的激光測量系統耦合，檢測半導體材料中的缺陷。它是用於基於晶圓的設備的過程控制、故障分析和生產監控的強大工具。KLA P-20具有可變靈敏度設置,可用於檢測亞微米大小的缺陷。CCD成像設備用於掃描晶片表面。當器件在晶片表面上移動時，激光束測量從晶片表面反射出來的反射光。這些記錄的數據用於識別晶圓中的表面缺陷和其他問題。CCD成像單元配備了高分辨率、高速掃描引擎，能夠快速準確的測量。掃描速度可調，最大掃描時間為1秒。該機器還具有一個測量數據庫,用於存儲檢查中的所有數據。該工具高度可靠，具有集成資產控制器、實時過程監控、可編程故障報警和自動測試臺模式等內置功能。它還與一個軟件集成在一起，該軟件為數據分析和報告生成提供了一個易於使用的界面。TENCOR P 20型號為長期運行而設計，可用於生產環境。其容量大、運行可靠，適用於先進設備的工藝控制、故障分析、生產監控。其先進的診斷和缺陷報告設備使其成為生產監控和缺陷檢測的理想選擇。總之，KLA/TENCOR P 20是一種包括先進激光測量單元和高分辨率、高速掃描引擎的高性能晶圓測試和計量系統。它是基於晶圓的設備的過程控制、故障分析和生產監控的有用工具。