二手 KLA / TENCOR P2H #293758331 待售

KLA/TENCOR P2H是一種晶圓測試和計量設備,可快速、準確、無損地測量晶圓的整體表面質量。KLA P-2H是一個模塊化系統,旨在實現最大的靈活性和多功能性。它可以配置為手動或自動操作,使操作員能夠在手動和自動過程之間快速切換。該裝置采用先進的激光幹涉和共焦顯微鏡測量晶片表面特性，包括晶片地形、厚度、反射率、應變、直流電特性和微觀粒徑。它還使用了廣泛的成像技術來提供晶圓表面的高分辨率圖像，使用戶能夠識別缺陷。TENCOR P2H配備了特殊的圖像顯示功能，能夠快速解讀數據。它還具有強大的分析工具,如自主圖像分析（AIA）,使用戶能夠以高精度和高精度快速分析大型圖像數據集。KLA P2H旨在滿足要求最苛刻的計量和測試應用程序的要求。它具有高精度和精密的特征集，非常適合評估整個晶片表面質量。它能夠為端到端晶圓生命周期管理提供可重復和可靠的數據。此外，P2H與自動化設備兼容，提供自動化晶圓測試和缺陷分析。它甚至可以自動檢測和定位晶圓表面上的異常。該機器還提供過程優化和控制功能。這允許用戶實時分析晶片級數據，並在處理過程中進行調整以優化性能。總而言之，P2H是一種先進的晶圓測試和計量工具，它提供了功能、精度和精度的無與倫比的平衡。KLA/TENCOR P2 H憑借其先進的成像功能、自動缺陷檢測、AIA特征提取工具和工藝優化功能,為用戶提供了一套獨特的測量和分析功能來評估整個晶圓表面質量。