二手 KLA / TENCOR P2H #9188380 待售

KLA / TENCOR P2H
ID: 9188380
High resolution profiler.
KLA/TENCOR P2H是一種先進的晶圓測試和計量設備,專為尋求改進其工藝控制的半導體制造商而設計。它廣泛應用於現代集成電路(IC)的制造中,適用於模具的預粘結和後粘結測試。KLA P-2H系統由數字成像單元和計量機兩個主要組成部分組成。數字成像工具包括一個高分辨率相機和一個基於現場編程門陣列(FPGA)的處理器,以糾正數據中的失真。攝像機捕獲電路組件的圖像,然後將其存儲為數字圖像。計量資產使用物理參數測量(如高度、傾斜、角度)來測量元件的物理特性。該模型能夠從分辨率為0.5 um的IC層捕獲數據。它還具有智能軟件算法,使設備能夠同時處理和解釋多層或單層。此外,系統能夠識別模式並將測試分數應用於整個產品。TENCOR P2H單元在各種領域都有應用,從過程控制到質量保證。可用於測量過程誘發缺陷,識別故障機制,標記不合格產品。機器也很精確,允許它檢測到非常微小的物理特性變化,以便調節過程參數進行嚴密的過程控制。P2H工具還得益於可擴展性和速度。該資產設計為靈活且易於適應不同的需求,無論是生產線需要掃描每個模具還是簡單地掃描整個晶片。這種靈活性使模型能夠降低制造IC的成本並縮短上市時間。最後,P-2H設備設計為易於使用且直觀。用戶界面旨在確保操作員能夠快速了解和使用系統。這使得它非常適合各種功能,從過程控制到質量保證。總體而言,KLA/TENCOR P-2H單元是一種有效且用途廣泛的晶圓測試和計量機器。它專為靈活性和可擴展性而設計,允許制造商改進過程控制並降低制造IC的成本。該工具能夠極小地努力進行精確的測量和數據收集,使其成為開發和生產現代集成電路的寶貴工具。
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