二手 KLA / TENCOR P2H #9408171 待售

KLA/TENCOR P2H是一種領先的晶圓測試和計量設備，專門為提高半導體行業的產量和生產吞吐量而設計。它利用三維自動目視檢查過程來檢測基板表面的潛在制造問題。這樣可以快速檢測和校正當前晶片上的缺陷以及總體產量的趨勢。KLA P-2H系統的自動顯微鏡成像裝置可以對晶片上的結構和缺陷進行成像和測量。通過捕獲有關結構和缺陷的詳細信息,晶圓工程師可以快速檢測、分析和報告任何異常。該機器還允許工程師通過與其他可提供單一數據源的可用軟件集成來查看同一晶圓的多個檢查圖像。它還提供各種自定義分析工具以及交互式圖形顯示和報告。TENCOR P2H工具的自動測量軟件是為快速測量和分析其圖像而設計的。它的自動圖像處理資產學習和調整晶片基板的變化，減少檢查時間和提高精度。操作軟件還提供了一系列缺陷檢測選項,包括模板匹配、熱像素匹配、空間尺寸設置和背景估計。此選項範圍允許精確檢測和分類細微缺陷。P2H模型還提供數據驅動的測試和分析,用於測量和跟蹤處理器制造的質量。利用這些先進的能力，設備可以識別工藝改進，測量產量下降和減少由工藝流程和設計產生的廢物。此外,它還包括數據連接,允許與工廠中的其他系統共享晶圓測試數據和其他生產編號。總體而言，KLA P2H是一個全面的晶圓測試和計量系統，具有很高的性能、準確性和可靠性。其自動化的三維檢測過程和全面的功能範圍為制造商提供了提高質量、降低成本和提高生產吞吐量的能力。