二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX 6200 Surfscan #9245958 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan是為服務半導體制造商而開發的關鍵尺寸和薄膜厚度計量工具。該設備采用3軸掃描儀進行快速準靜止掃描，直至100Hz，動態掃描至6kHz。它是晶片、晶片級封裝和薄膜基板的三維計量的理想選擇，因為它能夠測量任何表面的臨界和平坦度，包括平面、彎曲、階梯式和階梯式。KLA 6200 Surfscan系統具有0-32微米的寬測量範圍，分辨率為0.1microns，適合精確精確的測量。三軸掃描儀還保證了所有3軸掃描儀的高可重復性，並確保了位置測量中的高水平可重復性，以提供一致的測量。憑借其3軸掃描儀設計，TENCOR 6200 Surfscan單元可以有效地測量復雜的幾何形狀，如步入式曲面。該機器還具有直觀和用戶友好的圖形用戶界面,具有便於操作和分析的全面功能。它還具有集成的專有算法，允許自動測量表面，校正儀器傾斜、存根采樣和檢測器偏移等效果。此外,還可以隨時校準6200 Surfscan工具,以確保對任何工藝或產品更改進行準確的測量。PROMETRIX 6200 Surfscan資產還擁有一整套專門為半導體晶圓測試和計量設計的軟件工具。這些工具允許分析和表征不同材料、設備和應用程序的各種參數。其最重要的工具之一是其臨界尺寸軟件,它可以測量和比較臨界尺寸與相應的模具模具,並分析臨界尺寸隨時間的變化。總體而言,KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan模型是尋求提高晶圓測試和計量過程的效率和準確性的半導體制造商的理想解決方案。其廣泛的功能,如高測量範圍、高可重復性和直觀的用戶界面,使其成為這些制造商的強大、全面和可靠的解決方案。此外,它的軟件套件確保了對不同參數和應用程序的全面分析,最終為用戶提供了一個理想的工具,可以自信地分析關鍵尺寸的變化,並確保晶圓測試和計量過程的成功和準確。