二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9299885 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I是一種晶圓測試和計量設備，利用先進的成像和計量技術，提供高精度的深度晶圓缺陷檢測和成像。該設備是陣列檢測技術（AIT）產品組合的一部分，旨在滿足MEMS （Micro-electromechanical Systems）、電源設備、整個晶圓分析以及其他基於圖像的排便應用等推進應用的嚴格要求。KLA AIT I系統包括一個利用高精度步進電機以亞微米分辨率掃描基板的快速激光掃描儀。這種快速激光掃描儀能夠增強3D表面地形、多重反射率和圖像清晰度。一個先進的控制單元控制著TENCOR AIT I機的運行。AIT I工具還具有最先進的圖像處理和計算算法，設計用於快速、準確的晶圓檢測和分析。這些算法用於檢測晶圓表面上的缺陷,如顛簸、劃痕和凹坑。該資產還具有許多高級圖像處理技術,如自適應閾值、區域合並和灰度處理。這些技術能夠檢測和量化可見和隱藏的缺陷，這對於高度精確的晶圓檢查和計量至關重要。PROMETRIX AIT I模型還具有強大的高級成像設備,能夠以比以往更高的精度捕獲晶圓圖像。這種創新的成像系統能夠進行精確的幹涉測量，顯著提高晶圓圖像的精度和分辨率。此外,該單元還具有強大的軟件校準程序,用於生成用於自動數據采集的精確晶圓配置文件。KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I機器旨在簡化流程流程並最大程度地減少停機時間,從而提供更快的產品交付周期並降低成本。該工具強大的用戶界面簡化了操作員培訓和產品維護。此資產的所有功能都可以集成到整個生產和質量控制過程中,以確保可靠的產品完整性和功能。KLA AIT I模型是測試和計量半導體晶片等高精度應用的不可或缺的工具。它具有多功能性和準確性,能夠快速可靠地檢測缺陷,而其強大的成像設備可確保對高精度測量和分析進行實時檢查。該系統非常適合現代半導體制造,非常適合不斷變化的技術環境。