二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9365988 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75是專門為半導體行業設計的晶圓測試和計量設備。該系統為晶圓地形、缺陷和其他關鍵參數提供準確可靠的測量。它能夠在大幅面晶片上進行精密的測試，同時還能提供光學透明薄膜的高度詳細的映射。KLA Omnimap RS-75單元的關鍵組件是集成的獲取和測量硬件平臺、先進的成像機以及功能強大但易於使用的軟件。硬件平臺由掃描儀、計算機和必要的工具組件組成。該掃描儀具有三軸X-Y-Z級,能夠精確移動以詳細描述晶片。計算機運行先進的成像資產，它將復雜的算法與高分辨率光學器件結合在一起，以獲得準確和可重復的結果。TENCOR OMNIMAP RS75模型附帶的軟件是根據半導體行業的要求量身定制的。它提供了快速、高效的數據處理、高級數據分析和高級特征識別功能。該軟件還為可視化和可視化工具提供了強大的選項,使用戶能夠快速評估其測量結果。Omnimap RS-75旨在為非高斯數據提供高效可靠的測試解決方案。利用曲率半徑、步高、空間漂移等參數精確測量薄膜。其先進的成像技術還可以對薄膜進行精確的缺陷檢測，而其先進的特征識別能力則為薄膜缺陷和接觸計量等應用提供了高分辨率的缺陷表征。KLA還提供了一套專門為KLA/TENCOR/PROMETRIX OMNIMAP RS75設備設計的校準選項。這些校準選項提供了高精度和可重復性,使系統能夠滿足最嚴格的行業標準。為確保數據完整性,PROMETRIX Omnimap RS-75會自動存儲校準結果以供用戶參考。PROMETRIX OMNIMAP RS75是一個先進的晶圓測試和計量單元，旨在提供半導體行業領先的性能。它具有集成的獲取和測量硬件平臺、功能強大且易於使用的軟件以及一套校準選項。該機器提供準確可靠的測量，使用戶能夠自信地評估其晶圓測試和計量活動的結果。