二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #293594524 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H是一種最先進的晶圓測試和計量設備,設計用於在微觀水平上檢查晶圓的正面和背面。該系統具有很高的光學分辨率,可實現精確和快速的無損測量。KLA P-20H包括一個獨特的外圍和圖案化晶片映射單元,它不僅允許對晶片的表面進行地形映射,而且允許對晶片的物理特征進行地形映射。它具有雙面檢測功能，從晶圓的兩側都具有表面和圖樣計量能力。此外,TENCOR P20H還具有自動缺陷識別、缺陷分類和計量分析等高級功能,從而可以對晶圓進行更高效、更準確的分析。PROMETRIX P-20H由先進的專有算法和邏輯成像推動,使其能夠提供晶圓的3D光學厚度和電阻率測量,並能夠識別各種缺陷類型,如粒子缺陷、靜電放電和制造的特征缺陷。TENCOR P-20H還利用先進的照明和圖像采集技術，包括明場和暗場照明技術以及P-20HCCD相機技術。KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H的高級掃描功能與其高級軟件用戶界面相結合。功能包括高級數據管理、配方控制、統計缺陷分類及其報告生成器,它將所有結果總結為易於閱讀的格式。它還具有圖形圖像編輯功能,允許手動識別用戶自身設備上的缺陷。這臺機器被安置在一個與潔凈室兼容的外殼中，為晶圓測試和計量提供了一個低噪音和無塵的環境。這種環境受到各種先進的塵埃過濾技術的保護，以及空氣中的粒子檢測工具，進一步將晶片與塵埃顆粒隔離開來，以確保從P20H中精確測量。總體而言,P-20H是一流的晶圓測試和計量資產,可進行高質量、快速和準確的測量,同時確保無灰塵和低噪音環境。它結合了先進技術、光學分辨率、軟件用戶界面和圖形圖像編輯功能，為用戶提供了可靠、可靠的模型。