二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9111707 待售

ID: 9111707
晶圓大小: 8"
優質的: 1996
Surface profiler, 8" Options: SECS / GEM Wafer shape: Semi Notch No Flat (SNNF) Cassette port MIRAIAL KM-803P-K Wafer cassette, 8" PP PC Micro head 1 LF sensor Open handler, 8" STAR JR-100 Graphic printer No SMIF 1996 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H晶圓測試和計量設備是一種自動化的高精度計量系統,專為各種關鍵晶圓測試和計量應用而設計。該單元提供了復雜的設計和高級軟件體系結構,使用戶能夠精確、快速地執行各種測量任務。KLA P-20H利用了一系列直接驅動級,在表面和復合計量測量中提供了極高的精度。該級配備了鉛螺釘和線性編碼器/伺服電動機,以實現高速、高分辨率的性能。臺階還采用低重心設計,確保了可靠的測量,沒有漂移。TENCOR P20H具有強大的圖像識別機和最先進的光學成像功能。這套復雜的先進技術集成包允許以更高的精度和可靠性測量樣品表面。該工具最多可配置6個攝像頭,可提供卓越的邊緣識別能力。圖像采集和分析過程是完全自動化的,這樣可以加快樣品測量周期,提高準確性。P-20H設計用於各種樣本量和形狀,包括地形復雜的樣本量和形狀。資產允許進行一系列測量,包括臨界尺寸(CD)、叠加和其他3D計量功能。此外,該模型還設計用於晶片到晶片和晶片到掩模的對準測量。KLA P20H提供強大的設計和各種高級功能。它還提供了三種不同的測量模式,如靜態、高分辨率和低分辨率。在靜態模式下,KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H能夠比其他計量解決方案更快地收集數據樣本。在高分辨率模式下,該設備能夠以更高的精度和可重復性收集樣本數據。最後,在低分辨率模式下,系統提供低噪聲圖像,圖像質量得到高度提高。PROMETRIX P-20H旨在提供有關測量結果的實時反饋,以及數據存檔和報告生成功能。該單元還支持廣泛選擇晶圓測試和檢查過程。精確度、可靠性、高速性能和高級功能的結合使其成為實現精確晶圓測量的理想解決方案。
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