二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9150863 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H是一種最先進的晶圓測試和計量設備，設計用於提供半導體晶圓的精確測量和分析。該系統具有氣動模式識別階段，保證晶片自動對準，用於精確測試和掃描。它還配備了高速4軸定位單元，可以對晶圓掃描和測試要求實現非常精確的運動控制。此外,該機器還可以承受各種各樣的晶圓尺寸和配置,並且能夠從晶圓表面的不同區域收集數據。KLA P-20H工具包括許多計量選項,例如薄膜厚度測量、晶圓經度測量、電阻率測量、接觸電阻測量、晶圓邊緣測量和成像。它還具有各種額外的測量選項，例如粒子掃描、地形分析和應力映射，以便進行更深入的測試和分析。檢查區域可容納多達32個6英寸晶片，可快速同時進行測試和掃描。資產的用戶界面旨在方便操作,並具有直觀的設置和監控功能。此外，該模型可以遠程操作並與其他控制系統集成。用戶界面還針對故障點的檢測進行了快速、準確的定制。它允許收集數據日誌和測量晶片的位置，以便進行更詳細的分析和報告結果。TENCOR P20H設備設計為即使以盡可能高的吞吐量速率也能提供可靠、準確的測試和計量結果。它還配備了先進的安全功能，以確保晶圓測試安全可靠地進行。此外，它是為滿足ISO 9000標準而建造的，這意味著它可以更好地追蹤正在收集和處理的數據。總體而言，KLA P20H晶片測試和計量系統是從半導體晶片進行精確測試和收集數據的強大而可靠的工具。其直觀的用戶界面和各種測試功能使其成為需要以高吞吐量速率提供詳細和準確數據的任何應用程序的理想選擇。