二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-100 #168088 待售
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單擊可縮放
已售出
ID: 168088
晶圓大小: 8"-12"
Resistivity measurement system, 8"-12"
Single open cassette station
Hardware Configurations:
Computer:
P3 733MHz
256MB RAM
38GB Fixed hard-disk drive
17-inch color VGA monitor or flat-screen LCD
CD-ROM drive
3.5-inch diskette drive, 1.44MB capacity
Handler:
25 slots 12” wafer with 12" ASYST open cassette load port
SBC: 486E
Controller: ESC-218BT Rev. 4.0
Robot: ATM-407B-1-S-CE-S293
Finger Type: Single Fork
Alignment System: Camera
Factory Automation: E40, E94, E90, E87
Software Configurations:
OS : Windows NT 4.00.1381
RS-100 Version 2.31.04 20051031 Debug
1.02a RS-100 Resistivity Tester Firmware
Measurement Specifications:
Measurement Range: 5m Ohm/sq - 5M Ohm/sq
Absolute accuracy: ±1% of NIST certified range, based on NIST(NBS) standard wafers corrected to 23oC
Measurement Repeatability: < 0.2% (1σ), based on KLA-Tencor’s “Probe Qualification Test”, 1 inch test diameter, using the appropriate probe head.
Edge Exclusion: 1mm from edge of film, using the appropriate probe head.
Temperature Accuracy: ±0.5°C
Temperature Repeatability: ±0.2°C
Measurement Capabilities:
Routine check: 1-30 sites programmable
XY map: up to 1,200 sites programmable
Single or dual configuration capability
Analysis Capabilities:
Contour/3-D map: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Diameter scan: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Probe qualification test: 20 sites, programmable radius
Trend and SQC charts
Histograms
Calibration curves for low dose monitoring
Throughput (5-site): 85WPH
Data Transfer Capabilities:
SECS-II, RS232 communication
Enhanced SECS-II for fully automated operation
Currently installed in cleanroom
2004 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-100晶圓測試和計量設備是半導體行業技術的一個進步,它提供了動態和可靠的體驗,有助於減少與生產過程相關的時間和成本。該系統提供了靈活性、準確性和速度的獨特組合,將導航、檢查和計量工具集成到一個平臺中。KLA RS-100使用集成導航單元在晶片上運行,該單元可以繪制出其確切位置並測量尺寸、形狀和缺陷特性。此導航由一臺可讀取晶圓唯一序列號和條形碼的視覺計算機提供幫助,該計算機提供數據跟蹤、分析和存儲功能。該工具還配備了多傳感器計量技術,用於精確的邊緣檢測、平整度測量和材料的臨界尺寸均勻性。TENCOR RS100收集的數據使工程師能夠快速準確地識別和量化晶片上的缺陷。資產可以檢測各種缺陷,如劃痕、顛簸和砂礫,以及顆粒和顆粒物汙染物內含物。它還可以檢測異物,如堿性和酸性顆粒、輕質材料和有機汙染物。鑒於這種高度敏感的檢查能力,RS-100已成為驗證晶片清潔度的事實上的模型。設備高度可定制,包括多種工具,如具有多波長的光源和高分辨率相機。PROMETRIX RS-100具有一系列測量功能,可以測量晶圓特征的形狀、大小和組成。工程師可以在一次運行中獲取有關單個和多個晶片的信息,並使用這些數據就如何優化生產過程做出更明智的決策。KLA RS100易於使用,並包含菜單驅動的觸摸屏界面和網絡調度程序。高質量的反饋和可追蹤的報告使生產過程更加高效,同時允許工程師根據從每個晶圓收集到的數據快速做出決策。RS100晶圓測試和計量系統是半導體工業的一個創新和可靠的解決方案。它提供了詳細的視覺檢查、計量和自動化數據跟蹤功能的平衡,以實現經濟高效的質量控制和高效的生產。
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