二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35C #9298820 待售

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ID: 9298820
晶圓大小: 4"-8"
Resistivity mapping system, 4"-8" 4-Point Prober with printer 3D Mapping and contour Trend charts OmniMap collects Analyzes sheet Conductive layers: Conductive layers: Implants, diffusion, EPI, CVD, metals and bulk substrates Measurement: 5m ohms/sq to 5m ohms/sq on 2" to 8" Measures up to 1264 sites per wafer using standard or user-defined patterns Sheet resistance: Accurate Repeatable.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35C晶片測試和計量設備是一種自動化設備,對各種半導體晶片樣品提供精確、可重復、準確的表征和分析。它具有三個功能:晶圓測試、計量和均勻性測量,它們都在一個平臺上執行。KLA RS-35C晶片測試涉及監測樣品的電特性,如直流、脈沖、響應時間、暗電流和表面噪聲。這是通過使用系統的特殊探針卡,以及為測試提供電源和信號調節的Autostation 8輔助電路來實現的。探針卡能夠執行30 kHz至20 MHz的測試頻率,分辨率高達1Ω。TENCOR RS 35C計量單位測量試樣的結構完整性和缺陷水平。其掃描電子顯微鏡(SEM)允許以高分辨率和放大倍率采集圖像,並具有自動特征識別和分析功能。該機裝有可變壓力SEM,可測量輕質和重質沈積晶片。它還能夠執行各種異位測量,例如斜率、輪廓和凹槽深度。最後,KLA RS 35C均勻性測量工具允許在設備的特定區域內快速測量樣品的設備參數。這是通過使用先進的RGB模式識別資產實現的,該資產能夠隔離諸如結泄漏、結擊穿、閾值電壓和環路電流等特征。總體而言,PROMETRIX RS-35C晶片測試和計量模型提供了一種表征和分析半導體晶片的可靠方法。它將三個不同的過程組合成一個緊湊的設備,從而使其成為各種應用的理想選擇。它提供了測量樣品不同特性的有效方法,使其成為工業實驗室和研究設施的重要工具。
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