二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75/TC #179989 待售
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已售出
ID: 179989
Resistivity mapping system, 8"
Hardware Configurations:
Handler Type: H2 handler, with two open cassette platens, it can be
attached with ASYST Load port for SMIF fab
Computer: 486/66 MHz
SW(StatTrax) Version : ST-6.70
Probe Head: x1 (Probe head type is optional depends on request)
Standard User interface - Monitor, Keyboard, trackball
Standard Media : Floppy Disk(1.44M)
Measurement Specifications:
Measurement Range: 5m Ohm/sq - 5M Ohm/sq
Absolute accuracy: ±1% of NIST certified range, based on NIST(NBS)
standard wafers corrected to 23oC
Measurement Repeatability: < 0.2% (1σ), based on KLA-Tencor’s “Probe
Qualification Test”, 1 inch test diameter, using the appropriate probe head.
Temperature Accuracy: ±0.5oC
Temperature Repeatability: ±0.2oC
Measurement Capabilities:
Routine check: 1-30 sites programmable
XY map: up to 1,200 sites programmable
Single or dual configuration capability
All standard wafer sizes: 100, 125, 150 and 200 mm
Analysis Capabilities:
Contour/3-D map: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Diameter scan: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Probe qualification test: 20 sites, programmable radius
Trend and SQC charts
Histograms
Calibration curves for low dose monitoring
Data Transfer Capabilities:
SECS-II, RS232 communication
Enhanced SECS-II for fully automated operation (optional)
1996 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-75/TC是一種封裝晶圓測試和計量設備,設計用於對半導體器件、電路和相關技術進行快速、高精度的研究。它提供了亞微米精度的自動光學檢查(AOI)和臨界尺寸(CD)測量。該系統建立在一個強大的框架上,允許同時進行AOI和CD測量,從而實現快速的設備表征精度。KLA RS75/TC通過專用的光頭提供高分辨率的計量數據,該光頭具有電動機動化托盤和搜索鏡頭,可實現快速、精確的掃描功能。使用先進的伸縮和自動查看方法,該設備可以根據客戶的需求精確檢測、測量和分析缺陷和CD參數。自動校準功能基於晶圓類型和用戶定義參數優化了光學性能。集成的專有高級3D-analysis軟件套件包括強大的反光、CD和GQA工具,可用於全面、全面的計量和缺陷分析。該軟件方便地與許多領先的晶圓生態模型集成在一起,簡化了健康和風險評估分析,同時確保了準確、一致的結果。TENCOR RS-75TC具有直觀的用戶界面,可有效控制光學對準和采樣參數,從而在一次掃描中可靠地實現缺陷和CD測量。彩色照明、受控的環境可確保亮度水平保持一致,從而實現最佳的視覺和缺陷檢測。此外,PROMETRIX RS-75TC還提供了一系列用戶友好的功能,可幫助簡化數據收集和分析。它允許復制和共享晶圓配方、可移動掃描軌跡以及同時查看多個缺陷屬性。此外,它的「分析報告表」為客戶提供了一個易於編程的報告工具,使他們能夠在單個實驗中以.csv或.xls格式導出數據。KLA RS-75/TC是廣泛的半導體器件、電路和技術的先進晶圓測試和計量的完美工具。它提供對光學對準、采樣參數和自動缺陷檢查的完全控制,使客戶能夠可靠地研究其設備,同時確保準確性和一致性。其先進的功能和直觀的用戶界面使機器易於使用,讓客戶手掌中擁有功能強大、速度快、精度高的計量工具。
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