二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX SM 300 #293766761 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 300是為最精確的半導體檢測和分析而設計的高端晶圓測試和計量設備。該系統能夠以高精度和高精度測量復雜的半導體結構和器件，設計用於分析從小型電阻器和電容器到大型內存器件、集成電路等等的微電子器件。KLA SM 300利用最先進的光學成像技術來分析和測量半導體結構，以無與倫比的精度和精確度提供清晰細致的成像。這是通過高度敏感的4-Axis掃描單元實現的，該單元允許將表面特征的分辨率降低到0.1微米。該機還利用專有的邊緣檢測算法提高邊緣識別和圖像分割的有效性。TENCOR SM 300配備了一套強大的計量和分析工具。這包括一個AL切割計量工具來測量通過矽結構（TSV）和一個廣角計量工具，它可以用來分析先進的互連結構，如先進的扇出技術（AFOT）。其他計量和分析工具包括光度成像和模模比較能力。PROMETRIX SM 300非常靈活,可以根據特定的應用程序和個人需求進行定制。例如，該工具可以配置各種掃描和測量光學器件，為復雜的設備結構和TSV結構等先進技術提供最準確的數據。此外,整個資產被設計為與其他設備和實驗室自動化集成,使其更加通用和高效。SM 300是先進半導體檢測分析的理想選擇。該模型具有高精度、精確度和靈活性,能夠滿足晶圓測試和計量的最苛刻要求。