二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX SpectraMap SM 300 #9284326 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX SpectraMap SM 300是一款先進的晶圓檢驗計量設備。該系統提供了一套全面的高精度表面測量、成像、薄膜厚度和包裝檢測功能。它設計用於測量一系列晶圓屬性,包括幾何、電氣屬性、薄膜完整性和曲面拓撲。KLA SpectraMap SM 300使用先進的數字成像和光學掃描技術，對晶圓表面創建高度精確的圖像和測量，分辨率高達0.2微米。它具有多種測量模式，包括體積映射、反向散射電子成像（BEI）、X射線透射率成像（XTI）和掃描電子顯微鏡（SEM）。該單元可以檢測到廣泛的制造缺陷，如微觀裂紋、劃痕、顆粒等缺陷。該機還提供強大的薄膜厚度和包裝檢查選項。其中包括薄膜厚度映射、封裝平整度、模版打印、模具連接、碰撞和焊條滾珠等。憑借這些先進的檢測能力，TENCOR SPECTRAMAP SM300為制造商提供了檢測和識別甚至最難以檢測的缺陷的能力。該工具的高級軟件套件允許簡化操作和快速數據處理。這有助於制造商快速、準確地分析晶片表面數據，並進行必要的調整以達到最佳效果。此外,SM 300還提供多種連接選項,包括以太網、USB 3.0、RS 232和GPIB,使其能夠輕松集成到現有生產線中。SPECTRAMAP SM300是一種強大的晶圓檢驗和計量資產.它提供晶圓表面、薄膜和封裝的精確測量，甚至可以檢測到最難以檢測的缺陷。這使得該模型非常適合高精度生產應用。