二手 KLA / TENCOR SFX 100 #293761850 待售

KLA/TENCOR SFX 100是一種晶圓測試和計量設備，設計用於半導體制造。它有助於測量晶片缺陷的過程，通常在測試和排序階段。該系統使用先進的成像和光譜技術，使其能夠識別和分析缺陷。它有助於確保晶片通過質量控制並符合所有相關標準。KLA SFX 100利用兩種掃描技術來分析晶片：明場成像和散射對比顯微鏡。亮場成像是一種相對簡單的成像技術，它以不同的方向掃描一個發光的表面，並記錄從表面反射到數碼相機上的光。散射對比度顯微鏡使用更復雜的技術，尋找粒子波特性的差異，如散射和吸收，來識別和隔離缺陷。TENCOR SFX 100專為效率和準確性而設計。它具有高速零件識別、圖像分析和缺陷分類功能，每小時可分析多達2000個晶圓。此外,該單元還利用傾斜的楔形界面提供不同角度的視圖,以幫助識別缺陷。這種快速自動化的水平對大型晶圓批次特別有利，因為它減少了測試所需的時間。該機器還具有先進的傳感功能,可顯著減少錯誤警報和故障測試。它可以檢測缺陷的大小、位置和形狀，以及它們的形狀、深度、汙染程度、材料類型和缺陷類型。這使得工具能夠準確識別真正的缺陷，從而顯著優化產量和質量保證。總之，SFX 100是一種先進的晶圓測試和計量資產，使半導體制造過程更加高效和準確。該模型能夠快速掃描大型晶片批次，準確檢測和隔離缺陷，從而提高整體質量保證和產量。